소프트 X- 레이 범위의 CCD QE
에 의해 출판 된:
Teledyne e2v
E2V는 이전에 여러 태양 관측 프로젝트에 대한 역명화 CCD를 제공했으며, 소프트 X- 레이 영역에서 CCD QE에 대한 여러 주요 기사가 생겼습니다. 이를 업데이트하기 위해 E2V는 싱크로트론에서 X-ray 최적화 된 EMCCD에 대한 테스트를 준비했습니다.
이들은 40 eV에서 2000 eV에서 45% 이상의 QE를 보여 주었으며, 강화 된 프로세스 장치는 기본 프로세스보다 QE가 상당히 높았습니다. 측정 된 값은 SDO SXI 임무에서 공개 된 데이터와 유사하므로 E2V 프로세스가 수년에 걸쳐 안정적임을 보여줍니다.
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랑:
ENG
유형:
Whitepaper 길이:
16 페이지
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